无锡协芯半导体科技有限公司
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垂直探针卡
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<p><span style="color: rgb(51, 51, 51); font-family: " helvetica="" background-color:="">晶片上的集成电路在制造完成后,会进行测试,以期将不良品(Bad Die)在封装前即予剔除,避免不良芯片进入封装,造成不必要的成本增加。<br/><br/><br/><br/></span></p>
共 1 条记录
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铍铜针针卡
平形排列针卡
刀针针卡
IGBT_DMOS针卡(大电流)
WAT针卡
刀片探针
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